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  • 品名: 激光粒度儀
  • 所屬欄目(mù): 粉體檢測
  • 描述: GX--J2000型(xíng)激光粒度儀是(shì)一(yī)種新型的粒度測試儀器,通過顆粒的(de)衍射或散射光的空間分布(散射譜(pǔ))來分析顆粒大小的儀(yí)器,采用Furanhofer衍射及Mie散射(shè)理(lǐ)論,測試過程不受溫度變(biàn)化、介質黏度,試樣密度及(jí)表(biǎo)麵狀態等諸多因素的影(yǐng)響,隻(zhī)要將...
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產品簡介


GX--J2000型激光(guāng)粒(lì)度儀是一種新(xīn)型的粒度測試儀(yí)器,通過顆粒的衍(yǎn)射或散射光的空間分布(bù)(散射譜)來(lái)分析顆粒大小的儀器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表麵狀態(tài)等諸多(duō)因素的影響,隻要將待測樣品均勻地展現於激光束中,即可獲得準確的測試結果。它具有(yǒu)準確可靠、測試速度快、測試範圍寬、重複性和(hé)真實性好(hǎo)、操作簡便等突出特點。

 

應用領域


建材、化工、冶金、能源、食品、電子、地質、軍工、航空航(háng)天、機械、高校、實驗(yàn)室,研(yán)究機構等。


 
 
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